作者:刘昆朋,曾庆华 单位:中国航空工业洛阳电光设备研究所 出版:《电光与控制》2009年第08期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDGKQ2009080090 DOC编号:DOCDGKQ2009080099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 分析了W ald序贯概率比检验用于故障诊断残差检测时备选假设必须唯一确定所带来的潜在局限性。在残差为正态分布的条件下,针对这种局限性提出了一种改进方法,在残差检测过程不断对备选假设进行修正,并消除了W ald序贯概率比检验产生的检测延时,定性分析认为这种改进方法适合于传感器缓变故障残差检测。仿真结果表明,改进方法相比于W ald序贯概率比方法,能更快速准确地检出缓变故障,具有更高的实时性。

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