作者：匡石,冯艳敏,郑东明,徐长伍,张玉喆 单位：沈阳仪表科学研究院有限公司 出版：《仪表技术与传感器》2009年第S1期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYBJS2009S10840 DOC编号：DOCYBJS2009S10849 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成，即硬件平台和软件平台，具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理，可根据不同类别的传感器芯片，设置不同的合格判定标准；在击穿电压测试项目中，对反向偏置电压设置实现了开放式管理，可根据不同的要求，设置不同的反向偏置电压，方便了应用。

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