作者：Peter Welander,辛磊夫 单位：中国电子学会;天津电子学会 出版：《软件》2009年第04期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFRJZZ2009040120 DOC编号：DOCRJZZ2009040129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • “四大”过程变量的测量各自独立，其中，温度测量似乎最具争议。事实上，这个貌似简单的任务经常会变得非常复杂，本文将探寻此中缘由。

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