作者:郭建英,丁喜波,孙永全,刘新华 单位:中国仪器仪表学会 出版:《仪器仪表学报》2009年第06期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYQXB2009060020 DOC编号:DOCYQXB2009060029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对电子元器件可靠性定级试验面临的困难,结合铂膜温度传感器可靠性研究,探讨了一种可实现的定级加速试验。在分析失效机理的基础上,选定了Arrhenius加速模型,求得激活能与待定常数。利用铂膜温度传感器多功能测试系统,完成铂膜温度传感器可靠性定级加速试验。结果表明,在控制抽样数条件下,明显地缩短了试验时间,对工程实践有重要参考价值。

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