作者:谭伟新 单位:成都市计量监督检定测试院 出版:《计量与测试技术》2009年第04期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJLYS2009040210 DOC编号:DOCJLYS2009040219 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在检定电子万能试验机的工作中,容易忽略一些影响试验机准确度的因素。通过介绍电子万能试验机的基本结构形式,分析传感器的长期稳定性、输出温度影响、零点漂移等技术指标对试验机准确度的影响,以及试验机使用下限对测量结果的影响,减少实际工作中的综合测量误差,为检定人员提高测量准确度提供必要的参考。

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