作者:刘相果,程晋明,祁双喜,曾祥明,刘光聪 单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所 出版:《压电与声光》2009年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYDSG2009060170 DOC编号:DOCYDSG2009060179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 利用压电陶瓷技术,设计并制备整体式多阵列压力传感器,并用于爆炸冲击波压应力的测试。结果表明,阵列传感器可测试爆炸冲击波的压应力及其分布、体密度分布、面密度分布等参数,其静态电容分布偏差小于±1%,压电常数d33分布偏差小于±3.3%,动态响应频率约为2.3MHz,冲击破坏阈值为100MPa量级。

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