作者:梅源 单位:南京电子技术研究所 出版:《电子机械工程》2010年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZJX2010020100 DOC编号:DOCDZJX2010020109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 高温高湿盐雾等恶劣环境会对高频箱内电子元器件的寿命和可靠性产生很大影响。为解决这一问题,提出了三种高频箱环境控制的方法。针对这三种方法,分别进行了试验验证,最终选择了其中一种工程应用效果较好的方法。研究成果可为未来解决高频箱环境控制这一关键技术问题提供有益的参考。

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