作者：鞠生宏,徐向华,梁新刚 单位：中国工程热物理学会;中国科学院工程热物理研究所 出版：《工程热物理学报》2010年第10期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGCRB2010100330 DOC编号：DOCGCRB2010100339 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 随着光电技术的发展，各种光学半透明薄膜在实际中得到了广泛应用。光学薄膜的使用必须建立在光学特性(如透射率、反射率和吸收率)已知的基础之上。一般而言，对于半透薄膜透射率的测量比较简单，而对于反射率和吸收率的测量往往比较复杂。本文在总结前人研究薄膜光学特性测量经验的基础之上，通过分析光路在多层薄膜间的传递过程，设计了一种利用辐射计有效测量半透薄膜光学特性的方法，测量简便、快速，可直接得到测量波段内薄膜的半球光学特性参数。在待测薄膜光学特性比较极端(透射率、反射率和吸收率其中之一很大或者很小)时，该方法仍然能够进行测量，并且透射率和反射率测量可苇复性好，相对偏差一般不超过6%。

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