作者:顾勇,王莎鸥,赵建明,胡永达,杨邦朝 单位:中国电子学会;中国电子元件行业协会 出版:《电子元件与材料》2010年第07期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZAL2010070340 DOC编号:DOCDZAL2010070349 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 高密度3-D封装技术是国内外近几年飞速发展的微电子封装技术。它在2-D平面基础上向立体化发展,实现了一种新的更高层次的混合集成,因而具有更高的组装密度、更强的功能、更优的性能、更小的体积、更低的功耗、更快的速度、更小的延迟等优势。该技术正在加速未来电子整机系统的微小型化。主要介绍了近年来3-D封装应用状况和一种新型的封装技术——系统上封装SOP(System-on-Package)。

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