作者：郝永平,卢继奎,杨芳 单位：西安机电信息研究所;机电工程与控制国家级重点实验室;中国兵工学会 出版：《探测与控制学报》2010年第02期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXDYX2010020200 DOC编号：DOCXDYX2010020209 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 针对所见文献未给出封装结构变形对压阻式加速度计影响值，引入有限元分析软件Coventor Ware的Package模块进行定量分析。利用有限元分析软件Coventor Ware分析压阻式加速度计在不同温度下和受到不同方向冲击时，封装结构变形对其性能的影响。分析结果表明，温度和冲击作用于压阻式传感器封装结构对传感器的性能影响很小，均在万分之一数量级，与前人的试验结果吻合。

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