作者：郭永飞 单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 出版：《中国光学》2010年第06期 页数：12页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFZGGA2010060030 DOC编号：DOCZGGA2010060039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 空间辐射环境是遥感相机失效的主要原因之一。为了提高CCD遥感相机的可靠性，本文研究了改善遥感电子器件抗辐射性能的方法。介绍了空间辐射环境，指出太阳活动、宇宙射线、范艾伦辐射带以及次级辐射是产生辐射危害的主要来源。分别从辐射总剂量、单粒子和位移效应分析了空间辐射对不同电子器件和集成电路造成的危害。针对遥感CCD相机，从CCD器件、集成电路和大规模可编程门阵列(FPGA)3方面提出了相应的抗辐射策略，并进行了抗辐射总剂量和抗单粒子的抗辐射验证试验。本文的研究为提高遥感CCD相机的抗辐射能力和可靠性提供了保障。

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