《葡萄糖在铂化类金刚石薄膜电极上的氧化行为》PDF+DOC
作者:赵海新,刘爱萍,仇旭,沈国先
单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
出版:《无机材料学报》2010年第12期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFWGCL2010120200
DOC编号:DOCWGCL2010120209
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采用磁控溅射技术共溅射石墨靶和铂靶,制备铂化类金刚石(DLC-Pt)薄膜.利用X射线光电子能谱和激光拉曼光谱表征DLC-Pt薄膜的成分和微观结构,采用循环伏安法研究葡萄糖在DLC-Pt薄膜表面的氧化行为.结果表明,DLC-Pt薄膜中有更多的sp~2杂化碳原子,铁氰化钾在DLC-Pt薄膜表面的氧化还原反应受扩散控制.葡萄糖在-0.8V的电位下发生氧化反应,且在这个电位下葡萄糖的氧化信号不受尿素和抗坏血酸氧化信号的干扰.葡萄糖氧化电流和其浓度在2~22 mmol/L的范围内呈线性关系.因此DLC-Pt薄膜有望用做葡萄糖传感器检测血液中葡萄糖的浓度。
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