《LP模型分析涂覆长周期光纤光栅复折射率传感器》PDF+DOC
作者:罗涛,顾铮■
单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会
出版:《光电工程》2010年第12期
页数:9页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGDGC2010120150
DOC编号:DOCGDGC2010120159
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对于涂覆长周期光纤光栅(LPG)传感元件,涂覆层折射率大于包层折射率时将具有很高的灵敏度。然而在涂覆层厚度为纳米量级时,涂覆层的折射率将具有一定的吸收,吸收将对LPG传感元件产生一定的影响。本文在线偏振(LP)模近似理论和耦合模理论(CMT)的理论模型基础上,通过数值计算对这一情况进行研究讨论。详细分析了模式转变点附近和远离模式转变点区域涂覆LPG的模式结构和透射谱情况。在无吸收的理想模型基础上,详细分析了消光系数对模式转变和重新组合的影响,以及模式结构的转变对LPG透射谱的影响,得出吸收将会导致LPG灵敏度、可测量的动态范围的变化。最后,文章给出了一种新型的LPG吸收传感元件的模型。
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