作者：武利翻 单位：西安电子科技大学 出版：《电子科技》2010年第08期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZKK2010080070 DOC编号：DOCDZKK2010080079 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 为了抑制CCD图像传感器在强光照射时出现光晕和弥散现象，运用半导体器件数值模拟软件MEDICI，对建立的纵向抗晕CCD器件模拟结构进行数值计算，并分析1 PW层硼掺杂浓度参数对CCD纵向抗晕能力的影响，并对CCD纵向抗晕结构进行优化结构。而电子快门就是利用纵向抗晕的工作原理而发展的。

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