作者:周敬然,张海英,瞿鹏飞,董玮,刘彩霞 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2010年第11期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2010110140 DOC编号:DOCBDTQ2010110149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 针对ICP刻蚀工艺进行了深入研究,探讨了气体流量、射频功率和工作室气压设定值等工艺参数对刻蚀效果的影响,最终在硅基底上获得了线宽为40μm时深刻蚀的最佳工艺参数,即采用BOSCH工艺,压力设定为6Pa,在刻蚀过程中通入流量为100cm3/min的SF6气体,持续11s,射频功率20W,源功率450W,保护过程中通入流量为75cm3/min的C4F8气体,持续10s,射频功率0W,源功率220W,得到了最佳刻蚀结果,并利用此工艺制作出了量程为±12g,灵敏度为79mV/g,精度高于±2%微机械加速度传感器。

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