作者:王巍,代作海,王晓磊,唐政维,徐洋,王平 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2010年第09期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2010090230 DOC编号:DOCCGQJ2010090239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 研究了杂质不完全离化对金属—绝缘体—碳化硅(MISiC)传感器性能的影响。考虑到Pool-Frenkel效应和外加电场的作用,建立了MISiC器件空间电荷区泊松方程。运用准中性近似,对所建立的泊松方程进行数值计算,得到了空间电荷区的电势分布,进而得到MISiC传感器的I-V与C-V特性。实验结果表明:室温下SiC器件中杂质不完全离化,随着温度的升高,杂质离化率增大。在外加电场的作用下,杂质的离化率增加,并最终导致MISiC器件I-V与C-V曲线的移动。

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