作者:于留波,赵湛,方震,杜利东,丁国杰 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》2010年第02期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS2010020000 DOC编号:DOCYBJS2010020009 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 文中从金属应变式压力传感器的基本理论出发,以硅弹性膜铂应变电阻压力传感器为原型,推导了圆形和方形弹性膜片上电阻的变化率(dR/R)公式。通过比较,选用方形弹性膜为压力承压膜,以优化承压膜的宽厚比为出发点,用有限元方法对不同厚度方形膜片(宽度为2 mm)进行应力分析。由硅材料的屈服应力与最大位移的限制,确定了最优的膜厚范围;根据有限元仿真的结果对压力传感器进行优化设计,对所做压力传感器芯片进行测试,在6.00×104~1.06×105Pa的范围内,其精度优于50 Pa。

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