作者：崔杰,佟晓林,刘向东 单位：重庆西南信息有限公司 出版：《材料导报》2011年第18期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCLDB2011180120 DOC编号：DOCCLDB2011180129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 在预先制备的Au纳米粒子溶液中还原SnCl2合成AuSn纳米粒子，然后采用阶段性升温氧化获得Au@SnO2核/壳纳米粒子。采用XRD和TEM对合成的纳米粒子进行表征。在200℃和300℃分别测量Au@SnO2纳米粒子薄膜电阻随氧压变化的特性，结果表明，300℃条件下，当氧压为1.013&#215；105Pa时Au@SnO2薄膜电阻是初始状态的13.75倍；200℃条件下，当氧压为1.013&#215；105Pa时Au@SnO2薄膜电阻是初始状态的3.67倍。

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