作者： 单位：中国电子科技集团第四十五研究所 出版：《电子工业专用设备》2011年第02期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDGZS2011020150 DOC编号：DOCDGZS2011020159 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • Multitest的MT2168灵活测试位分布为在成本、利用率和RF应用方面带来优势Multitest是测试分选机、测试座和负载板的设计和制造商，主要面向世界各地的IDM和测试分包商。

    📙 相关资料

    1. 《ams推出基于NanEyeC微型图像传感器的最新评估套件》PDF+DOC 艾迈斯半导体(ams AG)推出NanoVision和NanoBerry两款评估套件，为工程师开发基于艾迈斯半导体NanEyeC微型图像传感器的电子系统提供更加完善的平台。NanEyeC摄像头是一款功能全面的图像传感器，具有一个1mm&#215；1mm的小尺寸表面贴装模块。这款微型...
    2. 《月度新品总汇》PDF+DOC CPU/SoC/MCU28nm定制芯片平台：定制芯片平台LSI公司推出28nm定制芯片平台，囊括了一系列丰富的IP块和定制片上系统(SoC)的高级设计方法。该28nm定制芯片平台采用台积电28HP高介电层金属闸工艺技术，使客户能够实现较高SoC集成度，大幅提...
    3. 《T2000 ISS 3Gb/s CMOS图像采集模块(3GICAP)》PDF+DOC 爱德万测试T2000ISS图像传感器测试(image sensor test solution)平台上的全新高速模块可从单个芯片到大规模量产阶段对CMOS图像传感器进行大规模并行测试，从而降低测试成本。...

    提示：百度云已更名为百度网盘（百度盘），天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。