《GE检测控制技术亮相第十五届国际工业自动化与控制技术展览会》PDF+DOC
作者:侯芳
单位:中国计量科学研究院
出版:《中国计量》2011年第08期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJILA2011080800
DOC编号:DOCJILA2011080809
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GE检测控制技术在近日开幕的第十五届国际工业自动化与控制技术展览会暨第十五届中国国际传感器、测试测量展览会上展示了GE检测控制技术在传感、测试测量和自动化控制领域的优质产品、领先技术和全面解决方案。
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