作者：吴浩伟,应朝福,彭保进,徐斐,赵亚辉 单位：中国光学学会;中国科学院西安光学精密机械研究所 出版：《光子学报》2011年第12期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGZXB2011120260 DOC编号：DOCGZXB2011120269 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 报道了一种具有微结构缺陷的折射率传感器，并对其折射率特性进行了实验研究.将一部分薄芯光纤熔接于标准单模光纤中，由于插入的薄芯光纤和单模光纤纤芯失配，导致包层的高次模被激发并与纤芯模在单模光纤内形成干涉仪.通过减小薄芯光纤的包层直径，以增强包层中的传输模在环境中的倏逝场，从而提高对环境折射率测量的灵敏度.实验表明，该折射率传感器具有损耗低、成本低、灵敏度高和线性度好等特点。

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