作者:王俊波,章涛,李国伟 单位:桂林电器科学研究所 出版:《绝缘材料》2011年第06期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJYCT2011060160 DOC编号:DOCJYCT2011060169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 为检测10kV开关柜内部绝缘缺陷或劣化、接触不良等问题,分别介绍了基于暂态对地电压(TEV)、超声波(AE)、超高频(UHF)检测方法,采用3种原理联合测试的方法,能为检修工作提供数据依据,保障10kV开关柜的安全运行。

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