《装片机丢片检测响应时间分析》PDF+DOC
作者:任绍彬,徐品烈,郎平
单位:中国电子科技集团第四十五研究所
出版:《电子工业专用设备》2011年第01期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDGZS2011010040
DOC编号:DOCDGZS2011010049
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对装片机芯片丢失的检测采用了一种新的方法,对真空吸附响应时间的影响因素进行分析,提出了缩短真空吸附响应时间的途径。
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