作者:冯斌,石秀华,康智强,马时亮 单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所 出版:《压电与声光》2012年第02期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYDSG2012020060 DOC编号:DOCYDSG2012020069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 在立靶密集度测试中,为构建更大的测试靶面(10m×10m),且要求测试系统具有较高的精度,在声探测阵列中增加了光探测器,组成了一种新的测量模型。该模型既具有声阵列能构成巨大测试靶面的特点,又通过引入光探测来提高测试系统的精度。推导了该模型的测量公式,并进行误差分析和仿真,得到了x坐标误差为5mm、y坐标误差为15mm的理论测试精度。

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