《基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统》PDF+DOC
作者:陈洪财,张荣学,孙名伟
单位:中国电子科技集团公司第三研究所
出版:《电视技术》2011年第22期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDSSS2011220360
DOC编号:DOCDSSS2011220369
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在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性。从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要。
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