作者:张磊,李和平,王光伟,许权辉 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2011年第08期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2011080170 DOC编号:DOCCGQJ2011080179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 借助表面粗糙度测试技术和循环伏安方法,研究了用Pt浆法制备Pt/YSZ电极过程中,YSZ表面粗糙度对其性能的影响。研究表明:Pt/YSZ电极制作时,所用金刚石磨片粒径大小对YSZ表面粗糙度间距参数无明显影响,但YSZ表面粗糙度高度参数则随着金刚石磨片粒径的增大而增大;当所用金刚石磨片粒径为44μm时,电极阴极活性(电位为-0.4 V时)最低,10μm时最高,约为44μm所制电极的2倍,其他电极则介于两者之间。

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