作者:郑威,张殿伦,孙大军 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2011年第06期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2011060410 DOC编号:DOCCGQJ2011060419 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • ADCP波潮仪利用ADCP波阵列技术测量方向谱。由于宽带ADCP具有独特的空间测点阵列,所以不仅具备了传统阵列测量方向谱的高精度,同时由于ADCP是一个单体设备,像浮标一样有很好的操控性。ADCP内部的姿态传感器实时测量出ADCP的姿态偏角(航向、俯仰、横滚),当ADCP存在较大倾斜时,必须要进行基于姿态传感器测量值的倾斜修正,ADCP方向谱的2种方法:波束方向速度法(Radial)和水层速度法(UVW)分别进行位置修正和速度修正。阐述了姿态传感器在ADCP波阵列测量中的求解方法,通过选取的三组ADCP试验数据分析,验证了姿态传感器在ADCP波阵列测量方向谱的重要性。

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