作者：王艳,李斌桥,徐江涛 单位：中国微米纳米技术学会;东南大学 出版：《传感技术学报》2011年第10期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGJS2011100170 DOC编号：DOCCGJS2011100179 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 为了消除CMOS图像传感器中随机变化的行噪声，在传统相关双采样的基础上，提出了一种新的读出时序。该时序采用行相关双采样方法，同时对相邻的两行像素进行操作，在采集图像信号的同时，把行随机噪声也采样到电容上，进行全差分操作，将行噪声消除。仿真结果表明：这种读出方法可以将行随机噪声大幅减小，经放大器放大32倍后噪声仍小于ADC的LSB，从而消除图像中随机的横纹，改善图像质量，扩展传感器在暗光下的应用。

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