作者:魏泽鼎,李志阔 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》2011年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS2011060170 DOC编号:DOCYBJS2011060179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对目前人工检测电子元件外形缺陷的不足,研究了图像处理技术,并以晶振为例,设计了基于图像传感器的电子元件外形检测系统。首先对电子元件准确定位,由CMOS图像传感器采集元件外形的图像信息,并采用全局阈值分割法,用硬件完成图像的二值化处理。单片机将得到的二值化数据逐行扫描,并进行分析与比较,以判断该元件是否存在缺陷。实验表明该方法的检测精度可达到±0.039mm,满足测量的需求,可解决人工检测的不足。

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