作者:常国龙 单位:福建省测试技术研究所 出版:《福建分析测试》2011年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFFJFC2011030170 DOC编号:DOCFJFC2011030179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 图像传感器在光学测量中具有重要作用,随着光源光强的提高,图像传感器处于饱和光强的情况越来越多。因此本文通过采用激光辐照CMOS像传感器的方法,研究了CMOS像传感器的饱和效应,明显观察到高光强使得图像灰度由亮变暗现象。该研究可以为高光强测试以及相机设计及后续图像处理提供参考。

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