《CMOS像传感器光饱和效应研究》PDF+DOC
作者:常国龙
单位:福建省测试技术研究所
出版:《福建分析测试》2011年第03期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFFJFC2011030170
DOC编号:DOCFJFC2011030179
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图像传感器在光学测量中具有重要作用,随着光源光强的提高,图像传感器处于饱和光强的情况越来越多。因此本文通过采用激光辐照CMOS像传感器的方法,研究了CMOS像传感器的饱和效应,明显观察到高光强使得图像灰度由亮变暗现象。该研究可以为高光强测试以及相机设计及后续图像处理提供参考。
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