作者：孙慧,徐抒岩,孙守红,李俊霖 单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 出版：《激光与光电子学进展》2015年第04期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJGDJ2015040260 DOC编号：DOCJGDJ2015040269 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 在全面分析光电成像传感器噪声源的基础上，提出了采用光子响应非均匀性因子Φ来评价光子响应非均匀性噪声，确立了Φ的测试方法，搭建了具有双积分球结构的测试平台完成了测试，并通过比对实验分析了光子散粒噪声、暗噪声和电路读出噪声对测试结果的影响，最后详细分析了整个输出范围内，光子响应非均匀性噪声与入射辐照度的关系，为光电成像传感器其他指标的测试和光子响应非均匀性噪声校正提供了有力的支持。

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