《微纳米三坐标测量机接触扫描探头稳定性分析(英文)》PDF+DOC
作者:李瑞君,范光照,钱剑钊,黄强先,龚伟,苗晋伟
单位:中国微米纳米技术学会;天津大学
出版:《Nanotechnology and Precision Engineering》2012年第02期
页数:7页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFNMJM2012020070
DOC编号:DOCNMJM2012020079
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对微纳米三坐标测量机(CMM)高精度扫描探头的稳定性进行了分析.该扫描探头由带有球头的光纤探针、悬浮机构、二维角度传感器和微型迈克尔逊干涉仪4部分组成.光纤探针和悬浮片固定在一起,当光纤探针的球头受到触碰时,会带动悬浮机构的悬线发生形变,进而导致贴在悬浮片上的平面反射镜倾斜或在竖直方向上发生位移,前者由二维角度传感器进行感测,后者由微型迈克尔逊干涉仪进行感测.实验结果表明,环境温度的变化是影响探头稳定性的主要因素,探头中机械结构和部件对温度变化的敏感性要远远大于探头中光电器件对温度变化的敏感性.只要将探头放到一个恒温箱中,待恒温箱温度稳定4 h再开始测量,探头即可达到1 nm的分辨力和30nm的测量标准差。
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