作者:钱超 单位:中国电子信息产业发展院 出版:《世界电子元器件》2012年第09期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSDYQ2012090220 DOC编号:DOCSDYQ2012090229 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 引言20世纪80年代初期,随着微电子技术的发展,国外报道了利用存储器芯片作为信息载体的数字存储测试仪。20世纪90年代,传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技术是从七十年代开始的一种新的弹上参数的测试方法,它是在不影响被测对象或影响在允许范围的条件下,在被测体

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