作者:李源,雷李华,高婧,傅云霞,蔡潇雨,吴俊杰 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2012年第06期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2012060080 DOC编号:DOCBDTQ2012060089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《基于纳米时栅传感器安装偏差的测量精度分析研究》PDF+DOC2017年第02期 王合文,吴玉梅,郑方燕,但敏,樊星辰 《前沿》PDF+DOC2020年第09期 《一种新型的光纤传感器的研究——对微位移的非接触测量》PDF+DOC1991年第01期 朱延彬,徐兢 《纳米测量机工作台导轨高精度误差分离原理》PDF+DOC2006年第12期 杨洪涛,费业泰,陈晓怀 《基于隧道效应的纳米级振动检测及补偿》PDF+DOC2005年第04期 李梦超,傅星,胡小唐 《纳米尺度和单分子水平上的化学生物学研究》PDF+DOC 李军,王柯敏,何晓晓,唐志文 《基于二次莫尔条纹纳米光栅传感器细分电路设计》PDF+DOC2011年第02期 孙效骥,钟伟红,方波静,支雄飞,余麟 《基于全息激光技术的纳米级分辨力位移传感器设计》PDF+DOC2010年第03期 焦小康,孙忠辉,朱振宇,万宇,王霁 《纳米校准与测试——基于纳米测量机的试验性研究》PDF+DOC2008年第02期 陈晓梅,万宇,朱振宇 《全自动在线六维纳米测量系统》PDF+DOC2013年第01期 胡凯,侯文玫,句爱松,董洪波,杨召雷
  • 重点研究了纳米尺度标准样片的光学表征方法。采用基于纳米测量机(NMM)的激光聚焦传感器(LFS)和扫描白光干涉传感器(SWLIS)分别对平面尺度的标准样片和台阶标准样片进行了测量、分析与比较。实验结果表明,利用该纳米测量机LFS对标定值为3μm的TGZ1一维栅格样片进行测量,其扩展不确定度为4.2 nm,实现了精确表征。利用SWLIS测量方法对标定值为49.217μm的SHS8-50.0高台阶标准样板进行测量,测量不确定度分析结果为0.065 7μm,实现了采用光学检测技术跨尺度对纳米尺度精密器件和结构进行表征。扩大了基于纳米测量机光学表征方法的应用范围,有利于纳米几何量量值溯源体系的建立。

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