《基于FPGA的恶劣环境下瞬态高温存储测试系统》PDF+DOC
作者:顾强,靳鸿
单位:北京自动测试技术研究所
出版:《电子测试》2012年第12期
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFWDZC2012120120
DOC编号:DOCWDZC2012120129
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《蓝宝石光纤黑体腔瞬态高温传感器测量系统特性参数研究》PDF+DOC2008年第10期 郝晓剑,李科杰,刘健,周汉昌
《瞬态高温传感器动态性能测试技术研究》PDF+DOC2005年第03期 王高,周汉昌
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《蓝宝石高温光纤传感器研究》PDF+DOC2001年第06期 王洪,越泽廷,黄明德
《基于MSP430的瞬态高温传感器设计》PDF+DOC2011年第02期 李伟,郝晓剑,周汉昌
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《瞬态高温测试中蓝宝石光纤传感器的误差补偿》PDF+DOC2009年第06期 王瑞,郝晓剑,周汉昌
《基于单片机的蓝宝石光纤黑体腔高温测试技术》PDF+DOC2014年第12期 郭伟平,王高,冯进宝
《蓝宝石光纤高温传感器抗冲击性能的测试研究》PDF+DOC2013年第02期 李园,郝晓剑,周汉昌
在航空、航天发动机、核工业和爆炸试验测试中,有许多研究对象需要测量的是高压、高冲击条件下的瞬态(<;1ms)高温(2000℃~3000℃),其工作特点是温度高,变化快,且常为不可重复性过程,而且伴随着很强的电磁干扰,测量条件非常恶劣,技术难度很高。由于蓝宝石(A12O3)单晶物理化学性能稳定,机械强度好、硬度高、绝缘、耐腐蚀、折射率大,在0.3~4.0μm波段范围内透光性很好,拉伸强度2200MPa,熔点高达2045℃。为了解决传统测温方法的不足,本文采用了蓝宝石单晶光纤黑体腔温度传感器来采集前端温度,与FPGA精确控制下的低功耗、微体积的测试电路一起灌封在高强度耐高温壳体当中,它们所组成的存储测试系统成功地解决了恶劣环境下瞬态高温测试存在的大量问题。
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