《硅微谐振式压力传感器中的单端口静电激励-电容检测方法研究》PDF+DOC
作者:邢维巍,彭振江,樊尚春
单位:中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所
出版:《计测技术》2012年第S1期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHKJC2012S10120
DOC编号:DOCHKJC2012S10129
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采用静电激励-电容检测方式的硅微谐振式压力传感器具有温度稳定性好、灵敏度高、功耗低等优点,但同频耦合干扰是限制电容检测精度的主要因素。采用频域分离法可有效地克服同频耦合干扰带来的影响。在研究基于频域分离法的单端口静电激励/电容检测的基础上,提出了单端口静电激励/电容检测方案。
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