作者:罗彪,温志渝,陈李,钱蓉蓉,梁玉前 单位:中国微米纳米技术学会;天津大学 出版:《Nanotechnology and Precision Engineering》2012年第04期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFNMJM2012040040 DOC编号:DOCNMJM2012040049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对集成角度传感器微镜在实际使用过程中的要求,在分析研究MOEMS扫描微镜结构与工作原理的基础上,进行了MOEMS扫描微镜最大偏转角度、驱动电压、谐振频率和传感器输出参数的测试.并且为了提高数据的可靠性,利用几何光学理论和误差理论的方法对该测试系统进行了详细分析,以此作为测试的系统误差与测试随机误差进行了误差合成.误差分析表明,该微镜在驱动电压为0.7 V时,最大偏转角为±8.704 15°,测试误差为±0.045 605°.此外,还对测试过程中扫描微镜谐响应频率随扫描模式及扫描电压而变化的现象进行了分析。

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