作者：曾嵘,沈晓丽,陈未远 单位：国家高电压计量站;中国电机工程学会 出版：《高电压技术》2012年第11期 页数：8页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDYJ2012110020 DOC编号：DOCGDYJ2012110029 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 电场传感器需要通过校准才能应用于电场测量，校准系统的不确定度反映了传感器校准结果的可信赖程度，所以需要评定校准系统的不确定度。横电磁波(TEM)小室具有成本低、内部电场均匀性好、幅值较高等优点，适用于产生标准电场，进行电场传感器的校准工作。针对光电集成电场传感器的校准需求，建立了一套TEM小室电场传感器校准系统，分析了该系统产生标准电场的各项影响因素包括场均匀系数、TEM小室特征阻抗实部、半空间距离和净输入功率，计算了这些影响因素的标准不确定度。通过不确定度合成，得出TEM小室校准系统在≥95.45%的置信概率下，产生标准电场的扩展不确定度为5.9%，满足校准电场传感器的需求。

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