《基于光电技术的旋转叶片锥体高度测量方法研究》PDF+DOC
作者:孙灿飞,莫固良
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2012年第10期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2012100120
DOC编号:DOCCGQJ2012100129
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针对国内航空、航天及机械等工业领域对中大型设备旋转叶片进行锥体高度测量的需求,提出了一种利用光学强度的变化来测量旋转叶片锥体高度的新方法,对该方法进行了理论分析和计算,并详细分析了利用该方法的新型传感器的设计与应用。在地面实验平台上对该方法进行了实验验证,结果表明:该方法测量旋转叶片锥体高度时间短、数据准确、使用方便,具有较高的实用价值。
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