作者:王挺,范文茹,郝魁红,王化祥 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2012年第09期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2012090210 DOC编号:DOCCGQJ2012090219 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 由于非金属复合材料及其内部不同损伤具有不同介电特性,采用平面式电容传感器阵列可实现无损可视化检测。针对平面式阵列电极结构,研究不同激励模式对复合材料内部缺陷检测效果影响。提出单激励、双激励和奇偶激励3种激励模式,对比分析各种激励模式下传感器信号强度、探测深度等性能差异。结果表明:奇偶激励模式在信号测量和成像质量方面都优于前2种模式。同时也验证了基于电容敏感机理的平面电容传感器阵列对复合材料内部缺陷检测的可行性和有效性。

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