《与CMOS兼容的MEMS气压传感器工艺实现与性能分析》PDF+DOC
作者:王艳春,黄庆安,聂萌,余辉洋
单位:中国微米纳米技术学会;天津大学
出版:《Nanotechnology and Precision Engineering》2012年第05期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFNMJM2012050170
DOC编号:DOCNMJM2012050179
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采用CMOS标准工艺,同时采用三种典型MEMS后处理关键工艺,重点通过对牺牲层释放工艺进行研究,制作实现了一种新型CMOS兼容的电容式气压传感器.在该传感器结构中,作为牺牲层的是在CMOS工艺中形成的掺硼氧化硅.通过释放使电容上电极悬空从而感应气压变化.释放过程采用氢氟酸HF、氟化铵、甘油和水的混合溶液.由于释放孔大小和释放孔间距的设计十分关键,通过实验验证优化了4μm×;4μm的释放孔更适用于此传感器结构,并对此结构进行了性能分析与实验测试.结果表明,该气压传感器结构合理,工艺成功,重点解决了MEMS后处理中的牺牲层释放工艺与CMOS标准工艺的兼容问题,为利用CMOS标准工艺进行MEMS传感器的研制做出了有益的尝试。
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