作者:靳展,刘铮,林玉池 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》2012年第12期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS2012120100 DOC编号:DOCCGJS2012120109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 光电传感器的特性参数检测需要对多种参数进行测试(如相对位置的位移、转角、光电传感器的电流、电压等),针对不同参数关系之间的测试要求,需采用不同的测试方法。传统的测试方法需要根据被测参数手动连接电路实现模式的切换,且测试方法枯燥而冗长。通过设计基于PXI系统的自动测试系统,集成多种测试模式的测试软件,设置多种调整环节,实现光电对的各种相对位置下的多参数、多模式灵活测试。实验结果表明测试系统很好地满足光电传感器不同参数间的测试需求。

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