作者:李纯,程静贤,李琦 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2012年第12期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2012120420 DOC编号:DOCCGQJ2012120429 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍了ZMD31050[1]在力传感器测试仪中的应用,首先对ZMD31050芯片的性能和工作原理进行阐述,介绍了该应用的硬件和软件设计,着重对传感器信号数据修调[2]进行说明。实验数据表明:结合ZMD芯片进行数据修调,测试仪精度由0.5%提升到0.2%,具有良好的应用前景。

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