作者:盛伟,李季平,陈加林,王辰熙 单位:中国仪器仪表协会上海光学仪器研究所 出版:《光学仪器》2013年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGXYQ2013030120 DOC编号:DOCGXYQ2013030129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 为了测量散斑干涉条纹,从而计算出被测物体的微位移,提出了一种基于AT89S52芯片的解决方案。运用单片机驱动步进电机,精准控制光敏传感器的移动,利用传感器判定暗条纹中心,结合软件进行实时处理,获得再现干涉条纹间距。实验结果表明,该设计方案对散斑位移的测量精度可达0.001mm。

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