作者:韩韬,周一宇 单位:中国航天科工防御技术研究院;中国宇航学会;中国系统工程学会 出版:《系统工程与电子技术》2013年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXTYD2013040120 DOC编号:DOCXTYD2013040129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 利用Yoyos系统与随机微分几何,对特定辐射源识别问题进行系统建模及数学分析,建立了一种有意义的几何学描述。通过上述模型及分析,指出辐射源个体所辐射信号的瞬时参数中包含具有内蕴性质的指纹特征信息,且由产生信号的辐射源个体的系统低维状态流形决定。提出了一种雷达辐射源指纹特征信息的有效性判据和信号内蕴指纹特征参数。最后通过外场实验数据验证了本文所提出模型及特征的正确性和有效性。

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