作者:张盛彬,王庆有,郭青 单位:天津理工大学 出版:《光电子·激光》2001年第11期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDZJ2001110160 DOC编号:DOCGDZJ2001110169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 现有精密尺寸测量系统采用单阵列的线阵 CCD作为光电传感器 ,不能检测像元的排列方向与物体尺寸方向的夹角γ,而当夹角γ在测量中发生变化时将引起测量误差。本文采用彩色线阵 CCD(TCD2 90 1D)作为光电传感器进行精密尺寸测量 ,检测出夹角变化带来的尺寸测量误差 ,得到了误差的修正方法

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