作者：汤恒,唐世洪 单位：中国电子质量管理协会;信产部第五研究所 出版：《电子质量》2001年第07期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZZN2001070020 DOC编号：DOCDZZN2001070029 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 剖析了各种压阻式力敏硅传感器的结 构，介绍了其工作原理和测试方法并， 对力敏硅传感器结构的优劣作出分析， 为合理地选择、应用力敏硅传感器提 供了依据。

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