作者:齐虹,王蕴辉,易德兴,王善慈 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2001年第04期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2001040080 DOC编号:DOCCGQJ2001040089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过对一种特定结构的硅压力传感器进行动态综合应力寿命试验 ,探讨了硅压力传感器的可靠性实验方法 ;并对失效样品进行了解剖分析 ,研究了它在温度、电压和压力共同作用下的失效机理 ,分析了产品设计、工艺与可靠性的关系 ,提出了相应的改进措施。

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