《共沉淀法SnO_2-WO_3粉体的气敏性能研究R&D》PDF+DOC
作者:牛新书,刘艳丽,胡平,徐甲强
单位:中国电子学会;中国电子元件行业协会
出版:《电子元件与材料》2002年第01期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZAL2002010030
DOC编号:DOCDZAL2002010039
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采用化学共沉淀法制得不同掺杂量的SnO2-WO3粉体,探讨了掺杂量、热处理温度、元件工作温度与WO3气敏性能的关系。研究发现:SnO2的添加抑制了WO3晶粒的生长,提高了其气体灵敏度。其中以0.5%(质量分数)的掺杂量为最佳,可进行H2S气体的选择性检测。
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