作者:沈健 单位:中国半导体行业协会 出版:《中国集成电路》2002年第08期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJCDI2002080290 DOC编号:DOCJCDI2002080299 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 颗粒测量系统公司(Particle Measuring systems Inc.)生产的AiM监测器可以对沉积于SiO2表面的空气分子沾污(AMC)进行实时监测,所获得的数据对于了解洁净室内的工艺过程与产生AMC间的相互关系特别有用。通过监测吸附物总量的长期变化趋势,可以确定洁净室内环境沾污的基本值,以及有利于对新污染源的早期确认。

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